不同电阻率测深方法对旁侧不均匀体的反映

wmjdd · 发表于 2011-8-17 11:17

【摘要】：利用三维有限元数值模拟,重点研究了旁侧三维不均匀体所产生的视电阻率的影响问题,展示了4种常规电阻率测深法在旁侧不均匀体上的异常分布特点;探讨了测深点正下方目标体异常与旁侧不均匀体异常的区别问题,指出旁侧不均匀体的影响是产生电阻率法假异常的主要原因之一。
【作者单位】：中国地质大学桂林工学院
【关键词】：电阻率测深旁侧不均匀体异常区分三维数值模拟
【分类号】：P631.322

ouxiaoyi · 发表于 2011-8-19 21:36

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[电法勘探] 不同电阻率测深方法对旁侧不均匀体的反映

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