[align=justify]摘 要：采用电感耦合等离子体发射光谱法同时测定工业硅中可能存在的铝、铁、钙、镁、钾、钠、磷、钡、铍、镉、铈、钴、铬、铜、锂、锰、钼、镍、铅、钛、钒、钨、锌、砷、锶、铼、锑、硼28个微量元素,并以差减法计算基体硅的含量,实现了对试样基体及杂质元素含量的同时测定.方法对28个微量元素的回收率为94.0%～103.4%,精密度(RSD,n=10)低于3.0%.方法经国家实物标准物质验证,测定值与标准值基本相符.
关键词：多元光谱拟合;电感耦合等离子体发射光谱法;微量元素;工业硅
分类号：O657.31 文献标识码：B
文章编号：0254-5357(2009)01-0072-03Simultaneous Determination of Micro-amount of Elements in Industrial Silicon by Inductively Coupled Plasma-Optical Emission Spectrometry SHA Yan-mei
作者简介：沙艳梅(1966-),女,河南太康人,高级工程师,地球化学专业.E-mail: shayanmei966@sohu.com
作者单位：沙艳梅（河南省南阳地质测试研究中心,河南,南阳,473000）
参考文献：
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