X射线荧光光谱法测定锌铝硅合金中硅和铁

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X射线荧光光谱法测定锌铝硅合金中硅和铁

王军学　

摘　要：采用岛津MXF-2400型多道X荧光光谱仪测定锌铝硅合金中硅及铁的含量,对样品分析面进行了选择,考察了分析面光洁度、样品放置时间对测定的影响条件.方法样品前期处理简便,分析速度快,灵敏度高,硅和铁的相对标准偏差(RSD,n=11)分别为1.15%和0.44%.与其他方法对照,结果相符.
关键词：X射线荧光光谱法;锌铝硅合金;硅;铁
分类号：O657.34;O613.72;O614.811 　文献标识码：B
文章编号：0254-5357(2008)01-0077-02

Determination of Silicon and Iron in Zn-Al-Si Alloy by X-ray Fluorescence Spectrometry

WANG Jun-xue　



作者简介：王军学(1971-),湖南湘乡人,工程师,从事光谱及其他仪器分析工作.E-mail:junxue_wg@163.com.
作者单位：王军学（湖南株冶火炬金属股份有限公司质保部,湖南,株洲,412004）　

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